Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://dspace.mnau.edu.ua/jspui/handle/123456789/13839
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorГиль, Михайло Іванович-
dc.contributor.authorGill, Mikhail-
dc.contributor.authorКаницька, Ірина Вікторівна-
dc.contributor.authorKanytska, Iryna-
dc.date.accessioned2023-05-22T08:07:58Z-
dc.date.available2023-05-22T08:07:58Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationМетрологія : конспект лекцій для здобувачів першого (бакалаврського) рівня спеціальності 175 «Інформаційно-вимірювальні технології» денної форми здобуття вищої освіти / уклад. М. І. Гиль, І. В. Каницька. Миколаїв : МНАУ, 2023. 111 с.uk_UA
dc.identifier.urihttps://dspace.mnau.edu.ua/jspui/handle/123456789/13839-
dc.language.isootheruk_UA
dc.titleМетрологіяuk_UA
dc.typeBookuk_UA
Розташовується у зібраннях:Конспекти та курси лекцій (Факультет ТВППТСБ)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
metrologiya-konspekt-bakalavr-175.pdf1,14 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.